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[Sonet/SDH] 浅析DWDM系统信噪比测试 [复制链接]

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注册:2004-12-14
发表于 2004-12-30 11:54:00 |显示全部楼层
随着通信信息量的迅猛增长,传输容量、传输设备也不断地增加,DWDM技术的应用越来越广泛,从点-点的传输乃至可自愈的环网都充分利用了光纤的带宽,各种速率、各种数据格式的不同厂商的设备,通过增加新的波长和特性满足对传输容量和传输距离的各种要求。
    DWDM系统是一种光域的模拟系统,主要包括光中继站、光终端站、光分插复用器等。DWDM传输系统的主要对象包括光传送段、光复用段和光通道。其维护测试指标主要是误码性能和光信号波长、光功率、光信噪比等。
    波长的测量:主要用来衡量中心波长光信道的间隔、DFB激光器稳定性、掺铒放大器放大范围、频谱偏移(波长随时间的偏移)等关键问题。功率测量:主要衡量激光器输出功率、光纤衰减、可能产生的非线性效应、EDFA增益的斜率影响功率的均衡等情况。信噪比的测量:主要衡量放大器的噪声、光通道之间的串扰、光纤的色散等系统性能。在实际的DWDM系统的安装和验收中,一般的网元测试主要在工厂验收时完成,例如:激光器的参数、EDFA增益、噪声系数、增益平坦度、合波器/分波器的插入损耗、每个信道的回波损耗、串扰、平均中心波长、每个信道的带宽、每个信道的PDL(极化相关损耗)以及DWDM终端设备光接口指标等。而系统测试则是工程验收和维护工作中经常实际测试的项目,主要包括:每个信道波长及其稳定度和信道间隔;每个信道的信噪比;每个信道的功率及其稳定度;光接口的发送和接收功率测试。

一、光信噪比的定义
    在实际DWDM系统网络中,不论是朗讯、北电、还是HUAWEI的DWDM设备,由于人为因素会影响线路衰耗、尾纤、法兰盘以及温度,影响放大器输出功率等原因都直接反映在信噪比上,所以信噪比测试指标变化较大。光信噪比OSNR是一项重要指标(信噪比SNR=Pout/Pnoise,即光输出功率与噪声输出功率的比),往往系统建成后全网调测时需要反复调整优化光功率,才能达到理想的信噪比。被放大的噪声信号的输出功率Pnoise=2×n×hv×(G-1)×B。式中,n代表噪声指数,hv代表光子能量,G代表增益,B代表带宽。如果系统有N个光放大器,则Pnoise=N×2×n×hv×(G-1)×B。噪声功率主要来自放大的自发发射噪声、增益、光纤色散引起的码间干扰、光纤的非线性效应等因素。除了自发发射噪声,其余可变因素能够使信噪比的变化情况反映出系统的变化情况。
    已知给定的信噪比OSNR的简单化模型为:
    固定的跨距衰减  OSNRn=58+P总∕M-Nf-L-LgN
    公式中OSNRn表示N个跨距后的光信噪比,M代表波分复用的光信道数量,P总∕M表示每信道的输出光功率,Nf为光放大器(OA)的噪声指数,L为跨距衰减。
    最坏情况信道的可变跨距衰减 OSNRk=58+P坏-Nf-Langk-LgK
    上式中OSNRk表示K个跨距后的光信噪比,M表示波分复用的光信道数量,P坏表示最坏情况信道的输出光功率,Nf表示光放大器(OA)的噪声系数,Langk表示渐增的跨距衰减。

二、光信噪比的测试与系统调整
    对于一个已建成的网络来说,跨距衰减、波分复用的光信道数等都是常量,从简单模型可见,OSNR的变化主要受信道的输出光功率影响,这和平时系统测试的情况基本吻合。通常,系统的信噪比不理想时往往通过改变OTU盘所加衰耗器来达到要求,事实上也就是改变了OTU的输出光功率。另外,线路割接、法兰接触不良所带来的影响,一方面使跨距衰减加大,另一方面也使光放大器的输出功率下降,对信噪比的影响很大。
    为了认识OTU输出功率下降对OSNR的影响和光纤衰减对OSNR的影响,大家分别做了以下测试:(1)在系统调测完成后,测试一组MpI-s点的光功率和信噪比。(2)把中心频率为192.2THz的OTU盘的衰耗器增加5dB,仍然测试一组MpI-s点的光功率和信噪比。(3)把该OTU盘的衰耗器增加10dB,仍然测试一组MpI-s点的光功率和信噪比。
    测试结果表明,OTU输出增加5dB时,中心频率为192.2THz的波长在MpI-s点的光功率下降了近8dB,信噪比降低5dB,而其它中心频率的波几乎没有大的变化,这主要因为放大器具有自动增益均衡,当16路信号中的某些信号失去时,不影响其它通路的正常运行,没有突发误码产生;光功率降低和信噪比降低的趋势基本一致但不具有完全的线性关系;OTU输出增加10dB时中心频率为192.2THz的波长就可能超出了OA的接收灵敏度的范围而测不到光功率和信噪比,而其余各波基本没有大的变化,原理同上。如果在极限情况下,15个波同时超出OA的接收灵敏度的范围,剩下的一个通路还能正常无误码工作。
    虽然线路衰耗或连接器引起的衰耗对光输出功率和噪声都有衰减,但从简单模型看,OSNRk与Nf不具有完全线性关系,这是因为DWDM系统的信号大多数是经过多个光放大器OA自动增益控制的再生和放大,有些噪声可能减弱或被抵消;另一方面,光信号被衰减后,色散、非线性效应等因素也难以预料,因此设备和线路的衰减情况难以进行直观的区别,而要通过对各个光中继段的光功率、误码性能的监测来判断设备或线路的故障。在实际工程中,就有因为法兰盘不好而影响好几个波的信噪比的情况。
    信噪比的测试目前是取光输出功率的十分之一来进行监测的,其精确度也不能完全准确的反映信噪比的各种特性,因此,光输出功率、光纤衰减和信噪比之间的内在联系以及定性、定量的关系,还需要通过模拟各个光中继段线路衰减的各种情况来摸索、分析,找出规律。


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